SJ 50033.9-1994 半导体分立器件.3DK206型功率开关晶体管详细规范
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ID： |
EB3E9E7ECE6D4F52B0DF89BADC8C7F18 |
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文件大小(MB)： |
0.5 |
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页数： |
10 |
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日期： |
2024-7-28 |
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中华人民共和国电子行业军用标准,半导体分立器件,3DK206型功率开关晶体管详细规范,1范围,1.I主题内容,本规范规定了 3DK206A-I型NPN硅功率开关晶体管的详细要求。每种器件均按,GJB 33《半导体分立器件总规范》的规定,提供产品保证的三个等级（GP、GT和GCT级兀,1.2外形尺寸,外形尺寸应按GB 7381《半导体分立器件外形尺寸》的B2-01C型及如ド规定（见图D：,1.3最大额定值,建:“ 7 c >25 C,按500mW/C的速率线性地降额,型 号7\_ =25 ご,(W),ジオj,(V),F円笛,(V),P riuj,CV),h,(A),九,CA),丁,(C),工,￠0),^DK206A 50 30,3DK206B 80 50,3DK206C 110 80,2DK2U6D 75 150' 110 6 5. 0 Z. 0 175 -55^175,3DK20SE 200 150,3DK2O6F 250 300,3DK2O6G 3 S0 250,3DKZ0GII 450 300,3DK2O6I 500 350,中华人民共和国电子工业部!994-09 30发布1994-12-01 实施,—1,下载,S3 50033/9-94,涓B2-01C ,min nom ’max,A 8, 63,12.19,他L52,防0.966 1.092,僧22.86,d 5,46%,F 3,50,L 8.0 13.9,レ1,52,怔3. 84 4,21,q 29.90 30. 40,旦13. 58,も4. 82,S 16. 89*,5 、ー40.13,lh 27. 17,图1,1.4主要电特性（，ス=25'C）,注:1）ん呜W40各档,其误差不超过±20%； ん田＞4。各档,其误差不超过二10%,\极限值,型号、,砧1 ",% =5. 0V,几=2.5A,「CEOut) VfiEwt) Jn h セA,CE 七 I0V,fc =0. 5A,J = 3. 0MHz,(MHz),Vcb=10V,/=0.1MHz,Ie =0,(pF),KrhtJ-- t7i,VCE =25V,Iq = 1. OA,CC/W),= 2. 5A,Iti =0. 25A,(V),厶 5A,国=O.25A,/b2 ~ ?—0- 25A,(州),max max min max max,3DK206A-I 红 15-25,橙25.40,黄40.55,绿55.80,蓝80.12c,0. 6 L2 0. 6 2.2 0.4 8 450 2.0,2引用文件,-2 -,SJ 50033/9-94,GB 4587双极型晶体管测试方法,GB 7581半导体分立器件外形尺寸,GJB 33 半导体分立器件总规范,GJB 128半导体分立器件试验方法,3要求,洋细要求,各项要求应按GJB 33和本规范的规定,3.2 讶计、结构和外形尺寸,器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB 33和本规范的规定,3.2 -!引出线材料和涂层,引出线材料应为可伐,引出线表面应为锡层或银层.对引出线涂层有选择要求时,在合同,或订货单中应予规定,3.3 标志,器件的标志应按GJB 33的规定,4质量保证规定,41抽样和检验,抽样和检验应按GJB 33和本规范的规定,4.2 鉴定检验,孥定检验应按GJB 33的规定,4.3 '筛选（仅对GT和GCT级）,器件的筛选应按GJB 33表2和本规范的规定。下列测试应按本规范表!的规定进行,超,过本规范表1规定极限值的器件应予剔除,筛 选,（见GJB33的表2）,颯 试,GT和GCT级,7、中间电参数测试厶HO1和んFE1,8、功率老化见 4. 3.1,9、星后测试按本规范表1的A2分组;,Aム%W初蛤值的100%或15配A取较大者,达初始值的士20%,4.3 -1功率老化条件,功率老化条件如下:,T, -162. 5+12. 5 C,V'cct -25V,Ftot >37. 5W,4.4 质量一轨性检验,质量一致性检验应按G邦33的规定进行,3,SJ 50033/9-94,4.4.1 A组检验,A组检验应按GJB 33和本规范表1的规定进行,4.4.2 B组检验,B组检验应按GJB 33和本规范表2的规定进行O,4.4.3 C组检験,C组检验应按GJB 33和本规范表3的规定进行.,4-5检验方法,检验方法应按本规范相应的表和下列规定,4.5 -1脉冲测试应按GJB 128的3. 3. 2.1的规定,4.5 -2热阻,热阻测试应按GB 4587的2. 1。和下列规定,a,加功率时的1c=1.0A；,b. VCE =25V ；,c丒基准温度测试点应为管壳;,d丒基准点温度范围为25C&Tc<75'C,实际温度应记录;,e.安装应带散热装置;,f.艮5c的最大极限值应为2. 0CハV,4.5.3 C组寿命试験,C组寿命试验应按GJB 33和本规范的规定进行,4.5.4 恒定加速度,恒定加速度试睑应按GJB 33和本规范的规定进行,表1 A组检验,检验或试验,GB 4587,LTPD 符号,极限值,单位,方法条 件min max,A1分组,外观及机械检验,GJB 128,2071,5,A2分组,集电极/发射极,击穿电压,3DK206A,3DK2O6B,3DK206C,3DK206D,3DK206E,3DK206F,3DK206G,3DK206H,3DK2O0I,发射极一基极,击穿电压,本规范,附录A,2. 9. 2. 2,发射极一基极开路,k = 3mA,集电极一基极开路;,ム=1mA,5,リ LBR)CEO,ド個R……
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